新技术PUF的RFID芯片防伪研究
由麻省理工学院研究人员成立的硅谷新公司 Verayo开始提供其商业版的防克隆技术产品,以解决 RFID安全问题。这套系统采用在 IC制造过程中硅片的独特物理特性和变异性(同一个芯片中,不同位置的单元,因为制造过程的非均一性,而带来的延迟上的差别)来识别单个硅芯片,从而判断真伪,系统无需采用现有密钥或加密存储功能。Verayo的核心技术是麻省理工学院研究人员发明的Physical Unclonable Functions (PUF)。Verayo的首款产品是 Vera X512H - 一款基于 ISO 14